【数字IC前端笔试真题精刷（2022.8.7）】大疆——数字芯片开发工程师A卷_大疆数字ic笔试 csdn

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笔试时间：2022年8月7日 19:00

题目类型：

• 单选题（11 x 4’ = 44’）
• 多选题（14 x 4’ = 56’）

单选题

1 下列关于DFT测试故障模型描述错误的是

A 用于制造缺陷的行为级抽象
B 根据抽象故障点不同区分
C 用于模拟缺陷行为
D 用于表征功能设计缺陷

参考答案：D 用于表征功能设计缺陷

解析：DFT（Design for Testability）测试故障模型主要用于描述可能发生的硬件故障，而不是功能设计缺陷。故障模型是一种用于模拟缺陷行为的抽象，根据抽象故障点的不同进行区分。而功能设计缺陷通常涉及设计规范、需求分析等方面的问题，与DFT测试故障模型的目标不同。

2 下列关于芯片的电压降(IR Drop)描述正确的一个是

A 增大电源网络密度可以改善压降
B 静态电压峰反映平均压降
C 电感对静态压降影响比动态大
D 降低工作频率会改善静态电压降

参考答案：A